Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук




Скачать 24.11 Kb.
НазваниеУчебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук
страница1/10
Дата03.02.2016
Размер24.11 Kb.
ТипУчебное пособие
  1   2   3   4   5   6   7   8   9   10



А.В. Флорко, В.Г. Шевчук.


Спектральные методы исследования высокотемпературных систем.


Учебное пособие


Одесса 2006


МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ УКРАИНЫ
ОДЕССКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
им. И.И. Мечникова



Кафедра общей и химической физики.


А.В.Флорко, В.Г.Шевчук.


Спектральные методы исследования высокотемпературных систем.


Учебное пособие


Одесса 2006


Авторы:

А.В.Флорко -профессор, доктор

физико-математических наук

В.Г.Шевчук -профессор, доктор

физико-математических наук


В пособии рассмотрены наиболее известные и хорошо отработанные методики исследования конденсированного и газового компонентов горящих систем. Ряд методик сопровождаются практическими рекомендациями и заданиями.

Для студентов, аспирантов и начинающих исследователей.


Ответственный редактор:

А.Н.Золотко, профессор.


Рецензенты:

Ю.Ф. Ваксман, проф., А.В. Тюрин, проф.


ПЕЧАТАЕТСЯ по решению Совета физического факультета

пр. № от


С О Д Е Р Ж А Н И Е

ВВЕДЕНИЕ………………………………………………………………………6

ЧАСТЬ 1. ОСНОВЫ ПРАКТИЧЕСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ….. …......8

1.1 Спектральные приборы и их классификация…………………….................9

1.2 Щелевые спектральные приборы……………………………………...........10

1.2.1 Характеристики спектральных приборов………………………………...10

1.2.2 Уширение спектральных линий прибором. Аппаратная функция (инструментальный контур)…………………………………………………….13

1.2.3 Диспергирующие элементы……………………………………………. 17

1.3 Подготовка щелевого спектрального прибора к работе (практические рекомендации)…………………………………………………………………. .21

1.3.1 Юстировка дифракционного прибора СДМС…………………………...21

1.3.2 Определение практической разрешающей способности спектрографа…………………………………………………………………….28

1.3.3 Градуировка спектрометра по длинам волн…………………………… 30

1.4 Интерферометр Фабри-Перо……………………………………………… 31

1.4.1 Устройство интерферометра Фабри–Перо…………………………….. 31

1.4.2 Основные характеристики интерферометра Фабри-Перо……………. 34

1.4.3 Численные оценки характеристик интерферометра Ф-П…………...... 40

1.4.4 Скрещивание интерферометра с дополнительными спектральными приборами…………………………………………………………………….... 41

1.4.5 Юстировка интерферометра Фабри-Перо……………………………… 42

1.4.6. Измерение разности длин волн………………………………………… 44

ЧАСТЬ 2 АБСОЛЮТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕТОВЫХ ПОТОКОВ………………………………………………………………………45

2.1 Световой поток и его характеристики…………………………………......46

2.2 Абсолютные измерения световых потоков объемных и плоских источников.………………………………………………………………………50


2.3 Источники света…………………………………………………………….58

2.3.1 Излучение абсолютно черного тела…………………………………….58

2.3.2 Светоизмерительные источники излучения……………………………61

ЧАСТЬ 3 ДИАГНОСТИКА ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ ОБЪЕКТОВ ПО НЕПРЕРЫВНЫМ СПЕКТРАМ ИЗЛУЧЕНИЯ………………………66

3.1Оптическая пирометрия……………………………………………………..67

3.1.1 Радиационный метод……………………………………………………...67

3.1.2 Яркостный метод………………………………………………………….69

3.1.3 Цветовой метод……………………………………………………………72

3.1.4 Полицветовой метод определения температуры конденсированной фазы. Спектральная светимость. Спектральная испускательная способность………………………………………………………………………75

3.2 Оптические и излучательные характеристики субмикронных и микронных частиц при высоких температурах………………………………..80

3.2.1 Элементы теории Ми……………………………………………………...81

3.2.2 Программа для проведения расчетов оптических и излучательных характеристик частиц с использованием теории Ми (практические рекомендации)…………………………………………………………………...88

3.2.3 Излучение индивидуальных частиц микронного и субмикронного размера……………………………………………………………………………97

3.3 Преобразование Абеля. Переход от радиальных распределений световых потоков к локальным интенсивностям. Протяженность оптически тонкого источника излучения…………………………………………………………. .101

3.4 Измерение экстинкции излучения………………………………………..106

ЧАСТЬ 4 ДИАГНОСТИКА ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ ОБЪЕКТОВ
ПО АТОМАРНЫМ И МОЛЕКУЛЯРНЫМ СПЕКТРАМ ЗЛУЧЕНИЯ.111


4.1 Вероятности оптических переходов атомов и молекул………………….111

4.2 Коэффициент поглощения для спектральной линии…………………….114 4.3 Больцмановское распределение населенностей………………………….117

4.4 Определение концентрации атомов и молекул методом испускания…120

4.4.1 Концентрация атомов…………………………………………………...120

4.4.2 Концентрация молекул.............................................................................121

4.5 Спектральные методы измерения температуры…………………………124

4.5.1 Определение температуры по обращению резонансной линии………124

4.5.2 «Вращательная температура» электронной полосы двухатомной молекулы………………………………………………………………………..130

4.5.3 «Колебательная температура»…………………………………………...132

4.5.4 Определение температуры по допплеровскому контуру спектральных линий…………………………………………………………………………….132

4.5.5 Определение температуры по относительным интенсивностям спектральных линий……………………………………………………………134

4.5.6 Измерение температуры по интенсивности резонансных линий и влияние аппаратных искажений на результаты измерений………………..135

ЛИТЕРАТУРА………………………………………………………………….143


ВВЕДЕНИЕ.


К высокотемпературным системам относятся, в частности, плазма и горящие объекты. Впрочем, последние могут включать в себя плазму как один из компонентов.

Горение- сложный, многоплановый физико-химический процесс, полный анализ которого не может обойтись без учета как химических превращений вещества, так и явлений, вызванных выделением тепла, движением газа, процессами диффузии, теплопроводности и др.[1-5]. Взаимосвязь перечисленных явлений делает очевидной всю сложность теоретического анализа процессов горения. Интерес к горению уже многие десятилетия не угасает и обусловлен проблемами энергетики, экологии, технологии, космическими исследованиями и т.п. Не смотря на это, до настоящего времени не создана обобщающая теория горения, в том смысле, как это понимал академик Я.Б. Зельдович. По его мнению, теорию горения можно считать созданной в том случае, когда с ее помощью можно будет заранее рассчитать оптимальные геометрические и аэродинамические параметры любой камеры сгорания и ее характеристики в процессе эксплуатации[6]. Что же касается плазмы, то, несмотря на ее широкую распространенность в природе и исключительно важную роль в различных областях науки и техники: от источников света до термоядерного синтеза, она по- прежнему остается непонятым до конца объектом. До сих пор нет теории, которая устанавливала бы четкую количественную взаимосвязь внутренних и внешних параметров плазмы [7-9].

Задача диагностики состоит в накоплении исходной информации об исследуемой системе с целью построения адекватной теоретической модели.

В то же время любой метод диагностики, в сущности, является методом косвенного измерения некоторой физической величины, базирующийся на каких-то априорных предположениях о свойствах и параметрах объекта.

Эти модели и предположения строятся на основании общепринятых тео­рий, изучения опыта предшественников и то, что полученные результаты окажутся достоверными, определяется их внутренней непротиворечивостью и сравнением с результа­тами независимых экспериментов. К весьма перспективным методам исследования высокотемпературных объектов следует отнести оптико-спектральные методы[6,10,11], которые обладают рядом достоинств. Это связано прежде всего с тем, что они :

-являются бесконтактными, т.е. не вносящими возмущения в исследуемую среду;

- имеют малую инерционность измерения, которая определяется быстродействием фотоприемников и регистрирующей аппаратуры. Не сложно добиться характерного времени измерения 10-6-10-8с ;

- характеризуются высоким пространственным разрешением (порядка десятка мкм), которое зависит от качества оптических элементов;

-обладают высокой информативность, позволяющей одновременно проводить измерения нескольких параметров. Например, по зарегистрированной линии излучения можно судить о наличии в системе соответствующего химического элемента, контур линии дает сведения о кинетической температуре излучающего газа (доплеровское уширение) или о плотности возмущающих частиц (уширение из-за эффекта давления), или о концентрации заряженных частиц (штарковское уширение). Интенсивность линии позволяет судить о концентрации излучающих частиц.

Не претендуя на общность, остановимся на наиболее важной для начинающего исследователя информации. Отбор последней предопределялся, главным образом, многолетним опытом работы авторов и вкусами, навеянными учеными кафедры оптики ныне Санкт-петербургского государственного университета и кафедры общей и химической физики Одесского национального университета им. И.И. Мечникова.

Предлагаемые в учебном пособии практические задания включают в себя рекомендации для решения конкретных практических задач в виде лабораторных работ и рассчитана на студентов, аспирантов и начинающих научных работников.


ЧАСТЬ 1. ОСНОВЫ ПРАКТИЧЕСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ.


Экспериментальное решение большинства спектроскопических задач сводится к изучению спектрального состава и яркости излучения, исследо­ванию распределения этих величин по поверхности и объему источника и изменения их во времени. Эти исследования проводятся на установках, включающих три основных элемента: спектральный прибор, приемник излучения, изме­рительное устройство. Спектральный прибор разлагает излучение в спектр, приемник преобразует падающую на него энергию, измерительное устрой­ство позволяет измерить спектральное, пространственное или временное распределение излучения.

Этому важному разделу экспериментальной физике посвящено достаточно большое количество учебной литературы и монографий. Трудно переоценить достоинства работ [12-14], являющихся настольными книгами специалистов работающих в указанной области. Однако, для первого знакомства , трудно порой выделить главное при решении конкретных диагностических задач.


1.1 Спектральные приборы и их классификация.


В настоящее время спектральные приборы используются в очень широком диапазоне длин волн: от мягкого рентгеновского излучения λ=1-10Å до миллиметровых радиоволн λ=1-2мм. Эта область электромагнитных волн называется оптической областью и определяется общностью методов разложения излучения в спектр. Так, например, для λ>1-2мм используются чисто радиотехнические методы с применением антенн, волноводов и др. Спектральными приборами называют оптические приборы, предназначенные для разложения излучения в спектр. С математической точки зрения эта операция соответствует разложению электромагнитного импульса в ряд или интеграл Фурье, а операция исследования зависимости энергии излучения в спектре от длины волны соответствует определению коэффициентов в фурье- разложении.

В зависимости от способа регистрации спектра приборы делятся на:

спектрографы- приборы с фотографической регистрацией спектра; спектроскопы - в них спектр рассматривается глазом;

спектрометры - приборы с фотоэлектрической регистрацией спектра;

монохроматоры - приборы, предназначенные для выделения узкого участка спектра. Если эти участки последовательно меняются (это называется сканированием спектра) и выхо­дящее из прибора излучение регистрируется фотоэлектрически, то монохроматор пре­вращается в спектрометр.

В зависимости от элементов, обеспечивающих спектральное разложение, различают:

- призменные приборы;

- приборы с дифракционной решеткой;

- интерференционные приборы.

Несмотря на существенное различие физических принципов, призменные и дифрак­ционные приборы имеют много общих свойств, поэтому их объединяют в класс "Ще­левые приборы" в отличие от "Интерференционных приборов", также имеющих общие характерные особенности.


1.2 Щелевые спектральные приборы.

1.2.1 Характеристики спектральных приборов.


Каждый спектральный прибор характеризуется следующими параметрами: линейная или угловая дисперсия, разрешающая способность, область дисперсии, светосила, область спектра, в которой прибор можно наиболее эффективно использовать.

Типичная оптическая схема щелевого спектрального прибора (СП) представлена на (рис.1.1). Прибор содержит щель 1, диспергирующий элемент 2, фокусирующую оптику 3. Спектр представляет собой дискретную или непрерывную последовательность изображений щели, образованных лучами различных длин волн (λ1,,λ2,,λ3,…) на фокальной плоскости 4. Эти изображения попадают на фотоприемник 5 (глаз, фотопластинка, фотоумножитель, фотоприёмная линейка или матрица и др.)



Рис.1.1 Схема спектрального прибора.

Обратимся теперь к основным параметрам СП:

а) рабочий диапазон - интервал длин волн λmin ÷ λmax, в котором может работать СП. Основное влияние на рабочий диапазон оказывает спектральный прибор, но также возможно влияние осветительной системы и фотоприемника, поскольку чувствительность фотоприемника, равно как и коэффициент пропускания осветительной системы зависят от длины волны;

б) спектральная разрешающая способность R характеризует свойство прибора разде­лять излучение на компоненты, отличающиеся по длине волны на малый интервал δλ. Чем меньше этот интервал, т.е. чем более детальное исследование спектра допускает данный прибор, тем больше его разрешающая способность. Численно она определяется отношением:

R=λ/δλ, (1.1)


где λ — длина волны, для которой определяют разрешающую способность спектрального аппара­та; δλ- разность длин волн двух наиболее близких спектральных линий, которые еще могут быть разрешены данным спектральным аппаратом. Более строго разрешающая спо­собность определяется аппаратной функцией прибора, о чем речь пойдет ниже. Разрешение зависит от спектрального прибора, но возможно влияние и осветительной системы:

в) пространственное разрешение - расстояние между двумя точками пространства, излучение из которых может быть проанализировано отдельно. Основное влияние на него оказывает осветительная система;

г) временное разрешение - интервал между моментами времени, которые можно проанализировать отдельно. Основное влияние оказывает фотоприемник и регистрирующая система;

д) порог чувствительности - определяет минимальный поток энергии от источника, позво­ляющий проанализировать излучение. Эта важнейшая для задач диагностики характери­стика системы зависит от конструкции и физических принципов функционирования спек­трального прибора, типа и качества фотоприемника, уровня шумов источника, фотопри­емника с усилителем и регистрирующей системы.

е) угловая дисперсия (Dφ) определяет изменение угла отклонения луча φ (см. рис.1.1) с изменением длины волны λ: Dφ=dφ/dλ; (1.2)

ж) линейная дисперсия (Dl) определяется как: Dl = dl/dλ, где l- длина дуги (см.рис.1.1), отсчитанная от какой-нибудь точки фокальной поверхности до места пересечения ее с лучом. Чаще пользуются обратной линейной дисперсией:


1/Dl = dλ/ dl (1.3)

Измеряется обратная дисперсия в ангстремах на миллиметр.

з) область дисперсии- диапазон длин волн в спектре, где имеется однозначная связь между длиной волны спектральной линии и ее положением в спектре, наблюдаемом на фокальной поверхности. Например, для дифракционных приборов имеет место переналожение порядков дифракции, с которым приходиться бороться с помощью светофильтров.

д) светосила спектрального прибора характеризует его фотометрические свойства - она равна коэффициенту пропорциональности между яркостью источника и непосредственно измеряемой энергетической величиной. Светосила зависит от геометрических характеристик прибора, потерь излучения в нем, угловой дисперсии и др.


1.2.2 Уширение спектральных линий прибором. Аппаратная функция (инструментальный контур).


Разрешающая способность прибора зависит от его аппаратной функции. Предположим, что мы располагаем идеальным источником, излучающим строго монохроматические волны. Если бы прибор не вносил искажений в спектральное распределение излучения, то на выходе прибора (фокальная поверхность) получили бы ряд бесконечно тонких спектральных линий. В действительности же образованные прибором линии будут иметь конечную ширину. Это связано со следующим:

  1. спектральные линии являются изображением входной щели, которая всегда имеет конечную ширину;

  2. с дифракционными явлениями;

  3. с аберрацией и дефектами оптической системы;

  4. с особенностями регистрирующей системы, например, полосой пропускания.



Рис.1.2 Инструментальный контур Рис.1.3 Инструментальный контур

(широка щель) (узкая щель)


Если входная щель спектрального прибора достаточно широкая, то инструментальный контур имеет вид представленный на рис.1.2. С уменьшением ширины щели все больше будет проявляться дифракция на ней, которая приведет к уширению изображения линии (рис.1.3). Понятно, что с уменьшением ширины щели будет происходить уменьшение светосилы. Существует так называемая нормальная ширина ан [12], для которой разрешение и светосила оптимальны. Обычно, ан =0.02-0.04 мм. Согласно [12] щель называется нормальной, если ширина ее геометрического изображения в фокальной плоскости равна расстоянию между двумя линиями, разрешенными согласно критерию Релея (см. ниже) . При этом, как показал анализ [12], потеря в разрешающей способности по сравнению с бесконечно узкой щелью составляет около 25%.

Обратимся к расчету аппаратных искажений и алгоритму восстановления истинного контура линии. Предположим, что в спектральный прибор попадает строго монохроматическое излучению λ0. Из-за аппаратных искажений на фокальной поверхности вместо бесконечно тонкой линии будет формироваться некоторый контур конечной ширины. Иначе говоря, излучение с длинной волны λ0 будет попадать на участки фокальной поверхности, соответствующие иным длинам волн. Нечто подобное мы наблюдаем, когда смотрим через неслишком узкополосный желтый фильтр на чисто зеленый источник. Последний останется зеленым, но менее ярким. Пусть Ф0-интегральный сигнал, соответствующий полному световому потоку на длине волны λ0. Тогда каждому элементу указанного контура будет соответствовать сигнал: dФ=Ф0·А(λ)dλ, где А(λ)- аппаратная функция или инструментальный контур. Понятно, что:. Вид функции А(λ), как уже указывалось выше, определяется различными причинами и может быть довольно сложным. Предположим, что в спектральный прибор попадает спектральная линия, истинный контур которой F(λ). Функция F(λ) описывает изменение интенсивности линии с длинной волны. Тогда энергия излучения в интервале длин волн λ, λ+dλ будет очевидно равна: dФ= Ф0·F(λ)dλ.

Выделим интервал dλ´ вблизи λ´ . Этот участок линии будет уширен за счет аппаратных искажений. Если спектральный прибор будет настроен на длину волны λ, то выделенный элемент внесет вклад в регистрируемый сигнал:


λ´ = Ф0·F(λ´)·А(λ-λ´)dλ´ (1.4)


Интегрируя (1.4) по λ´ можно найти вклад от всех элементов линии в общий результат на длине волны λ:


Ф(λ)= Ф0·F(λ´)·А(λ-λ´)dλ´ (1.5)

Функция Ф(λ) описывает контур регистрируемой линии с учетом аппаратных искажений. Выражение (1.5) представляет собой свертку двух функций.

Рассмотрим два практически важных предельных случая.

1. Полуширина линии много меньше полуширины аппаратной функции. Ниже мы уточним понятие "полуширина". А это означает, что А(λ-λ´) в пределах линии (λ≈λ0) есть величина практически постоянная, что позволяет вынести ее за знак интеграла:


Ф(λ)= Ф0·А(λ-λ0)F(λ´)dλ´ = Ф0·А(λ-λ0) (1.6)


Этот результат позволяет найти аппаратную функцию спектрального прибора экспериментально. Для нахождения аппаратной функции спектрального прибора достаточно прописать контур узкой линии, например, нерезонансной линии газоразрядной лампы низкого давления.

2. Аналогично можно убедиться, что, если ширина линии значительно превышает ширину аппаратной функции, то регистрируемый контур линии будет близок к истинному.

Если полуширины функций F и А сравнимы, то для восстановления истинного контура необходимо решать довольно сложную задачу по нахождению подинтегральной функции F(λ´) в уравнении (1.5). При решении интегрального уравнения (1.5) на практике применяют аналитические или графические методы [12]. Особенно плодотворно используются методы фурье-анализа.

Пусть искомые функции можно представить в виде интеграла Фурье.

Например:


Ф(λ)=(2π)-1Ф(Ω)·eiλΩ dΩ (1.7)


где Ф(Ω)=Ф(λ)·e-iλΩ dλ- фурье -трансформант. Аналогичное выражение можно записать и для аппаратной функции.

Умножим уравнение (1.5) на e-iλΩ и проинтегрируем полученный результат по λ. В итоге получим: Ф(Ω)= F(Ω)· A(Ω), и далее: F(Ω)= Ф(Ω)/A(Ω).

Поскольку функции Ф(λ), A(λ) известны из результатов эксперимента, то не сложно найти и соответствующие фурье- трансформанты. Окончательно получаем:


Ф(λ)= (2π)-1(Ф(Ω)/А(Ω)))·e-iλΩ dΩ (1.8)


Операция восстановления истинного контура (редукция) проводится с помощью компьютера. Записанные контуры линий отягощены шумами, от которых перед обработкой результатов следует избавиться используя стандартные программы. В противном случае восстановленный контур может содержать ложную структуру. Все описанное выше имеет место в предположении линейности системы, в чем необходимо предварительно убедиться. Для каждой системы существует диапазон входных сигналов, в котором это условие выполняется. Необходимо определить этот диапазон и не использовать для количественных измерений сиг­налы, выходящие за границы линейности.

  1   2   3   4   5   6   7   8   9   10

Похожие:

Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconУчебное пособие Чита 2012 министерство образования и науки российской федерации федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования
Учебное пособие предназначено для студентов 1 2 курсов направлений 081100 Государственное и муниципальное управление, 080100 Экономика...
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconУчебное пособие разработано для подготовки студентов по специиальностям очной, очно-заочной форм обучения и экстерната по специальности «документоведение в управленческой деятельности»
...
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconІi международная научно-практическая конференция “ полупроводниковые материалы, информационные технологии и фотовольтаика
Украины «Киевский политехнический институт», Национальный технический университет «Харьковский политехнический институт», Харьковский...
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconУчебное пособие Санкт-Петербург 2010 удк 616-058: 93/99+61(06) isbn 57645-0189
В. П. Романюк, В. С. Лучкевич, И. Л. Самодова. История мировой и отечественной медицины: учебное пособие. – Спб.: Спбгма им. И. И....
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconУчебное пособие министерство образования российской федерации гоу впо «уральский государственный педагогический университет»
Учебное пособие предназначено для курса «История музыкального образования», который входит в федеральный компонент учебного плана...
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconМинистерство здравоохранения украины национальный медицинский университет имени А. А. Богомольца
Международная научно-практическая конференция ко всемирному дню здоровья, который
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconВера Савченко «В глухом переулке»
Дерибасовская – Ришельевская: Одесский альманах (сб.) Книга 38.– Одесса, 2009. С. 225-232
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconМинистерство образования и науки украины национальная академия наук украины
Б-63 Биоразнообразие и роль животных в экосистемах: Материалы V международной научной конференции. – Днепропетровск: Лира, 2009....
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconМинистерство образования и науки украины национальная академия наук украины
Б-63 Биоразнообразие и роль животных в экосистемах: Материалы IV международной научной конференции. – Днепропетровск: Изд-во дну,...
Учебное пособие Одесса 2006 министерство образования и науки украины одесский национальный университет им. И. И. Мечникова Кафедра общей и химической физики. А. В. Флорко, В. Г. Шевчук iconМинистерство образования и науки украины национальная академия наук украины
Биоразнообразие и роль зооценоза в естественных и антропогенных экосистемах: Материалы III международной научной конференции. – Днепропетровск:...
Разместите кнопку на своём сайте:
Библиотека


База данных защищена авторским правом ©lib2.znate.ru 2012
обратиться к администрации
Библиотека
Главная страница