«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.)




Скачать 19.04 Kb.
Название«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.)
страница3/4
Дата03.02.2016
Размер19.04 Kb.
ТипТематический план
1   2   3   4
Тематический план

1. Классификация измерений, методов и средств измерений.

2. Статические характеристики и параметры средств измерений.

3. Динамические характеристики и параметры средств измерений.

4. Погрешности измерений и характеристики средств измерений

5. Методы измерений и используемое измерительное оборудование в электронике.

6. Измерение характеристик полупроводниковых элементов.

7. Измерение характеристик элементов больших интегральных схем.

8. Измерение характеристик полупроводниковых элементов для определения параметров и их моделей.

9. Автоматизированные измерительные системы.


Литература

1. С.А. Зайцев, Д.Д. Грибанов, А.Н. Толстов, Р.В. Меркулов Контрольно-измерительные приборы и инструменты : учебное пособие / М. : Издательский центр «Академия», 2006. – 464 с.

2. Харт, Х. Введение в измерительную технику / Х. Харт ; пер. с нем. – М. : Мир, 1999. – 391 с.

3. Клюев, В.В. Неразрушающий контроль и диагностика : справочник / под ред. В.В. Клюева. 3-е изд., перераб. и доп. М. : Машиностроение, 2005. 656 с.

4. B1500A Анализатор полупроводниковых приборов. Agilent Technologies. Inc., 2004_2006 , www.home.agilent.com/agilent/


Радиационная стойкость изделий электронной техники

(Автор: доцент Вологдин Э. Н.)


Аннотация

Данный курс включен в вариативную часть профессионального цикла подготовки магистров 2-го года обучения. Курс направлен на формирование у слушателей понимания физических механизмов воздействия излучений на микроэлектронные приборы и методов повышения стойкости изделий.

Цель курса

Основная цель обучения данной дисциплине – ознакомление студентов с физическими процессами, происходящими в полупроводниковых материалах и полупроводниковых приборах при воздействии проникающей радиации, а также с основными принципами создания полупроводниковых приборов и интегральных микросхем с повышенной радиационной стойкостью.


Тематический план

1. Характеристика радиационной обстановки, в которой могут работать изделия электронной техники.

2. Взаимодействие проникающих излучений с веществом.

3. Радиационные повреждения в полупроводниках.

4. Радиационные изменения параметров полупроводниковых материалов.

5. Радиационные эффекты в биполярных транзисторах.

6. Радиационные эффекты в полевых транзисторах.

7. Радиационные эффекты в диодах.

8. Радиационные эффекты в других классах полупроводниковых приборов.

9. Радиационные эффекты в интегральных микросхемах.

10. Методы испытаний изделий электронной техники на радиационную стойкость.

11. Основные принципы обеспечивания радиационной стойкости аппаратуры.


Литература

  1. Вологдин Э.Н., Лысенко А.П., Радиационные изменения параметров полупроводниковых материалов, МИЭМ, М., 1988, 95 стр.

  2. Вологдин Э.Н., Лысенко А.П., Интегральные радиационные изменения параметров полупроводниковых материалов, МГИЭМ, М., 1999, 94 стр.

  3. Вологдин Э.Н., Лысенко А.П., Радиационная стойкость биполярных транзисторов, МГИЭМ, М., 2000, 101 стр.

  4. Вологдин Э.Н., Лысенко А.П., Радиационные эффекты в некоторых классах полупроводниковых приборах, МИЭМ, М., 2001, 70 стр.

Вологдин Э.Н., Лысенко А.П., Радиационные эффекты в интегральных микросхемах и методы испытания изделий полупроводниковой электроники на радиационную стойкость, МИЭМ, М., 2002, 65 стр.


Системы автоматизированого проектирования изделий

микро- и наноэлектроники

(Авторы – к.т.н., доцент Харитонов И.А.)


Аннотация

Данный курс включен в вариативную часть профессионального цикла подготовки магистров 2-го года обучения. Дисциплина направлена на приобретение студентами знаний и опыта разработки изделий микро- и наноэлектроники с помощью систем автоматизированого проектирования.


Цель курса состоит в

- изучении принципов построения и работы современных систем автоматизированного проектирования электронной компонентной базы;

- изучении современных программных средств для автоматизированного проектирования и конструирования приборов, схем и устройств электроники и наноэлектроники различного функционального назначения;

- приобретение студентами практических знаний и опыта проектирования изделий микро- и наноэлектроники с помощью систем автоматизированого проектирования;

- вопросов применения современных пакетов САПР для проектирования элементной базы.


Тематический план

1. Современные подходы к автоматизированному проектированию электронной компонентной базы.

2. Математические алгоритмы, используемые при автоматизированном проектировании.

3. Типовые маршруты проектирования больших интегральных схем и их элементов.

4. Уровни проектирования сверх больших интегральных схем.

5. Существующие современные системы автоматизированного проектирования изделий микро- и наноэлектроники.

6. Автоматизированное проектирование элементов схем.

7. Автоматизированное проектирование сверх больших интегральных схем


Литература

1. И. П. Норенков Автоматизированное проектирование. М:- 2000г.

2. Казённов, Г.Г. Основы проектирования интегральных схем и систем // Г.Г. Казённов. – М.: БИНОМ. Лаборотория знаний, 2009. – 295 с.

3. Сухарев А.В., Золотов А.И. Модели и процедуры оптимизации в автоматизации проектирования. (Программный комплекс FreeStyle Router): Учеб. пособие. СПб.: СЗТУ, 2001. 165 с.

4 . А. Бухтев, Методы и средства проектирования систем на кристалле, // Chip News», 2003 №4.

6. Разевиг В.Д. Система проектирования ORCAD 9.2. // Москва, Солон-Р, 2003.

7. Г. Шрайбер, Справочник по микросхемам, ДМК Пресс, 2005, 208 стр.

8. А. Бухтев, Методы и средства проектирования систем на кристалле // Chip News», 2003 №4.


Исследование и анализ тепловых режимов полупроводниковых приборов

и интегральных схем

(Авторы – д.т.н., проф. Петросянц К.О., к.т.н., доцент Рябов Н.И.,

к.т.н., доцент Харитонов И.А.)


Аннотация

Данный курс включен в вариативную часть профессионального цикла подготовки магистров 2-го года обучения. Эта дисциплина направлена на приобретение студентами знаний и опыта как экспериментального исследования тепловых режимов полупроводниковых приборов и интегральных схем, так и моделирования их с помощью специальных пакетов программ. Изучаются физические механизмы отвода тепла в микроэлектронных изделиях, упрощенные инженерные методики оценочных расчетов тепловых режимов изделий электроники. Студенты знакомятся с тепловизионными методами анализа тепловых режимов изделий микроэлектроники.


Цель курса

- формировании у студентов понимания важности влияния температуры на характеристики и надежность работы микро электронных изделий;

- изучении физических механизмов отвода тепла в микроэлектронных изделиях и обеспечения их при проектировании электронных изделий;

- изучении современных программных средств для моделирования тепловых режимов приборов, схем и устройств электроники и наноэлектроники различного функционального назначения;

- приобретение студентами практических знаний и опыта исследования тепловых режимов изделий микро- и наноэлектроники.


Тематический план

1. Влияние температуры на электрические характеристики изделий микро- и наноэлектроники.

2. Физические механизмы отвода тепла в микроэлектронных изделиях

3. Инженерные методы оценочных расчетов тепловых режимов изделий электроники.

4. Пакеты программ для моделирования тепловых режимов элементов интегральных схем

5. Пакеты программ для моделирования тепловых режимов полупроводниковых элементов на печатных платах.

6. Тепловизионный анализ тепловых режимов изделий микроэлектроники.


Литература

1. Н.Н. Касьян, А. С. Ковальчук , Ю.Н.Кофанов Комплексное математическое моделирование электрических и тепловых процессов в радиоэлектронных средствах ЗГТУ, Запорожье, 1995, 118 с

2. А.Г. Мадера Моделирование теплообмена в технических системах // М., НО Научный Фонд «Первая исследовательская лаборатория имени академика В.А. Мельникова», 2005., -208 с.

3. В.В. Гольдин, В.Г. Журавский, В.И. Коваленок, Ю.Н. Кофанов и др. Исследование тепловых характеристик РЭС методами математического моделирования // М., Радио и связь, 2003г., 456 с.

4. Ю. Потапов Тепловое моделирование // EDA Expert, №10, декабрь 2002, стр.60-62.

5 . Пакет теплового моделирования печатных плат HyperLynx PCB Thermal Analysis // http://www.mentor.com/products/pcb-system-design/circuit-simulation/hyperlynx-thermal/

6. Maldague X. P. V., Jones T. S., Kaplan H., Marinetti S. and Prystay M. "Chapter 2: Fundamentals of Infrared and Thermal Testing: Part 1. Principles of Infrared and Thermal Testing, " in Nondestructive Handbook, Infrared and Thermal Testing, Volume 3, X. Maldague technical ed., P. O. Moore ed., 3rd edition, Columbus, Ohio, ASNT Press, 2001, 718 p.


Аннотации учебных курсов специализации

«Радиоэлектронные средства космических аппаратов»


Конструирование и технология радиоэлектронных средств космических аппаратов

(Автор: д.т.н., профессор Кечиев Л.Н.)


Аннотация

Дисциплина посвящена изучению основ конструирования и базовых технологий радиоэлектронных средств космических аппаратов. Основное внимание уделяется вопросам конструирования аппаратуры с учетом электромагнитной совместимости. Изучаются принципы компоновки космической аппаратуры, методы обеспечения тепловых режим, механической прочности, помехозащищенности и повышения стойкости аппаратуры к электромагнитным воздействиям, базовые технологические приемы, технология поверхностного монтажа, многослойных печатных плат, пайки, базовые технологии изготовления несущих конструкций. Определенное внимание уделяется изучению вопросов стандартизации и сертификации в области электромагнитной совместимости, а также единой системе конструкторской и технологической документации.

В результате изучения данного курса магистрант должен уметь адекватно ставить задачи исследования и разработки конструкций и технологий перспективных радиоэлектронных средств, отвечающих требованиям технического задания, электромагнитной совместимости на основе методов математического моделирования; осуществлять формализацию и моделирования конструкций, в том числе с учетом воздействия помех; выбирать методы защиты от помех в зависимости от поставленной задачи и свойств объекта; рассчитывать параметры и основные характеристики конструкций; а также владеть навыками выбора адекватных методов проведения испытаний и измерений параметров аппаратуры и принятия решений по результатам исследования моделей, а также − разработки конструкторской и технологической документации.


Цель курса

Подготовка студентов к выполнению конструкторских и технологических разработок перспективной радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов.


Тематический план

  1. Конструирование и разработка технологии как стадии создания радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов. Внешние и внутренние воздействия на аппаратуру. Компоновка космической аппаратуры. Стандартизация в области конструирования и технологии. Конструкторская и технологическая документация.

  2. Тепловые режимы в радиоэлектронной аппаратуре. Оценка теплового режима. Методы и средства обеспечения заданного теплового режима космической радиоэлектронной аппаратуры.

  3. Механические воздействия на космическую аппаратуру. Параметры аппаратуры по отношению к механическим воздействиям. Повышение стойкости и устойчивости космической аппаратуры.

  4. Понятие целостности сигнала. Обеспечение целостности сигнала в межсоединениях радиоэлектронной аппаратуры на различных конструктивных уровнях: печатные платы, кабельные соединения. Модели для оценки целостности сигнала. Фильтрация как средство повышения помехозащищенности аппаратуры и снижения помехоэмиссии. Типы фильтров и особенности их расчета и применения. Заземление фильтров.

  5. Экранирование космической аппаратуры. Типы экранов, структура электромагнитного поля. Выбор материалов для экранов. Методы расчета электростатических, магнитостатических и электродинамических экранов. Монтаж экранов.

  6. Электростатическая защита аппаратуры космических аппаратов.

  7. Инновационные технологии при создании космической аппаратуры: многослойный печатный монтаж, поверхностный монтаж, бессвинцовая пайка, методы изготовления несущих конструкций, нанесение защитных покрытий.

  8. Методология проектирования космической аппаратуры, применение систем автоматизации проектирования.


Литература

  1. Медведев А.М. Печатные платы. Конструкции и материалы.  М.: Техносфера, 2005.  304 с.

  2. Медведев А.М. Технология производства печатных плат.  М.: Техносфера, 2005.  360 с.

  3. Электромагнитная совместимость технических средств подвижных объектов. Учебное пособие/Н.В. Балюк, В.Г. Болдырев, В.П. Булеков, Л.Н. Кечиев и др. Под ред В.П. Булекова. − М.: Изд-воМАИ, 2004. − 648 с.

  4. Уилльямс Т. ЭМС для разработчиков продукции. − М. Изд. Дом «Технологии», 2003. − 540 с.

  5. Кечиев Л.Н. Проектирование печатных плат для цифровой быстродействующей аппаратуры (Монография). − М.: ООО "Группа ИДТ", 2007. − 616 с.

  6. Кечиев Л.Н., Акбашев Б.Б., Степанов П.В. Экранирование технических средств и экранирующие системы. − М.: ООО "Группа ИДТ", 2010. − 470 с.

  7. Кечиев Л.Н., Пожидаев Е.Д. Защита электронных средств от воздействия статического электричества. Учебное пособие. − М.: Издательский Дом "Технологии", 2005. − 352 с.

  8. Кечиев Л.Н., Степанов П.В. ЭМС и информационная безопасность в системах телекоммуникаций. − М.: Издательский Дом "Технологии", 2005. − 320 с.

  9. Балюк Н.В., Кечиев Л.Н., Степанов П.В. Мощный электромагнитный импульс: воздействие на электронные средства и методы защиты. − М.: ООО «Группа ИДТ», 2008.  478 с.; илл.

Пирогова Е. Проектирование и технология печатных плат. Учебник.  М.: ФОРУМ ИНФРА-М, 2005.  560 с.


Экспериментальные исследования радиоэлектронных средств космических аппаратов

(автор: к.т.н. Иванов И.А.)


Аннотация


Дисциплина «Экспериментальные исследования радиоэлектронных средств космических аппаратов» относится к вариативной части профессионального цикла и читается магистрантам 2 года обучения. Дисциплина направлена на изучение методик проведения эксперимента и анализа получаемых результатов, принципов моделирование эксперимента и сравнение эффективности компьютерного моделирования и натурного эксперимента. Излагаются виды экспериментальных исследований с учетом особенностей бортовых радиоэлектронных средств.


Цель дисциплины


Получение профессиональных знаний и навыков в области экспериментальных исследований радиоэлектронных средств космических аппаратов для решения научных и практических задач.


1   2   3   4

Похожие:

«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconПояснительная записка Дисциплина «Методы финансово-экономического управления»
В. П. Кирлица  доцент кафедры математического моделирования и анализа данных, кандидат физ мат наук, доцент
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconДиссертации «Проблема устойчивости задач математического программирования»
Доцент кафедры моделирования в экономике и управлении, кандидат физико-математических наук
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconПрограмма вступительного экзамена в магистратуру по направлению 23130068 «Прикладная математика»
Три этапа развития математического моделирования. Интеллектуальное ядро: модель- алгоритм-программа. Значение математического моделирования...
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconРабочая программа дисциплины «Методы моделирования и прогнозирования экономики»
Иволгина Светлана Витальевна доцент кафедры математических методов и моделей в экономике
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconВопросы к экзамену Основные понятия, этапы и методы математического моделирования социально-экономических систем
Параметрическое программирование. Постановка и геометрическая интерпретация задачи. Графическое решение задачи
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconРабочая программа дисциплины статистические методы построения математических моделей и обработки экспериментальных данных од. А. 04 Специальность 05. 13. 18 «Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ»
Целью дисциплины является углубленное изучение принципов математического моделирования систем на основе статистической информации...
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconМетоды и технологии для оценок экологического состояния природно-технических систем с использованием математического и геоинформационного моделирования
...
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconРабочая программа Компьютерное моделирование в материаловедении Специальность (направление): 010400 физика
Целью курса является освоение студентами специальных знаний по методам математического моделирования и оптимизации материалов и процессов,...
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconРабочая программа дисциплины модели и методы принятия решений фд. А. 01 Специальность 05. 13. 01 «Системный анализ, управление и обработка информации»
Целью дисциплины является углубленное изучение принципов принятия управленческих решений на основе математического моделирования...
«Инжиниринг в электронике» Методы математического моделирования (Автор: к т. н., доцент Рябов Н. И.) iconУтверждена на Ученом Совете механико-математического факультета сгу
Декан механико-математического факультета, кандидат физико-математических наук, доцент- захаров А. М
Разместите кнопку на своём сайте:
Библиотека


База данных защищена авторским правом ©lib2.znate.ru 2012
обратиться к администрации
Библиотека
Главная страница